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dc.contributor.advisorIbáñez H., Fernando
dc.creatorRoberto Serna Gutiérrez
dc.date.accessioned2015-08-17T10:20:33Zen
dc.date.available2015-08-17T10:20:33Zen
dc.date.issued2006-05-01
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11285/569374en
dc.description.abstractLa presente tesis de investigación fue desarrollada en una empresa de manufactura automotriz de ensambles electrónicos con tecnología de montaje superficial (SMT) y tiene como propósito fundamental presentar las experiencias de desarrollo y aplicación de la metodología de solución de problemas DEEP, en un ambiente de manufactura donde día a día se exige cada vez más y donde no hay lugar a la solución de problemas a través de la prueba y error. En los capítulos 1 y 2 se presentan los objetivos de investigación y las hipótesis que conforman el marco metodológico a seguir de esta investigación. El capítulo 3 menciona brevemente la revisión bibliográfica que compone a la tesis, donde se tiene gran influencia de autores japoneses, europeos y americanos. A partir del capítulo 4 hasta el capítulo 7 se señala la base teórica que tiene la metodología DEEP, donde se verán los aspectos racionales y humanos para la solución de los problemas, los estilos personales, se adentrará en el concepto de la mejora continua y por último se dará un repaso a las herramientas y metodologías de solución de problemas más populares en las compañías de manufactura. El capítulo 8 representa el resultado final de esta tesis de investigación donde se expondrá el origen y estructura de DEEP, así como, 2 ejemplos de las aplicaciones prácticas desarrolladas con esta metodología, por último, en el capítulo 9, las conclusiones contestarán a los objetivos y las hipótesis planteadas en los primeros 2 capítulos con base a los resultados del capítulo 8.
dc.languagespa
dc.publisherInstituto Tecnológico y de Estudios Superiores de Monterrey
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0*
dc.subject.classificationArea::INGENIERÍA Y TECNOLOGÍA::CIENCIAS TECNOLÓGICAS::TECNOLOGÍA INDUSTRIAL::INGENIERÍA DE PROCESOSes_MX
dc.titleDesarrollo de un Método de Solución de Problemas Aplicado a Procesos de Manufactura (Metodología DEEP) -Edición Únicaen
dc.typeTesis de maestría
dc.contributor.departmentTecnológico de Monterey, Campus Chihuahuaen
dc.contributor.committeememberHernández Ochoa, Karla Selene
dc.contributor.committeememberSolís Rivera, Elias
dc.contributor.mentorRamírez Vega, Jorge A.
refterms.dateFOA2018-03-06T11:53:25Z
refterms.dateFOA2018-03-06T11:53:25Z
html.description.abstractLa presente tesis de investigación fue desarrollada en una empresa de manufactura automotriz de ensambles electrónicos con tecnología de montaje superficial (SMT) y tiene como propósito fundamental presentar las experiencias de desarrollo y aplicación de la metodología de solución de problemas DEEP, en un ambiente de manufactura donde día a día se exige cada vez más y donde no hay lugar a la solución de problemas a través de la prueba y error. En los capítulos 1 y 2 se presentan los objetivos de investigación y las hipótesis que conforman el marco metodológico a seguir de esta investigación. El capítulo 3 menciona brevemente la revisión bibliográfica que compone a la tesis, donde se tiene gran influencia de autores japoneses, europeos y americanos. A partir del capítulo 4 hasta el capítulo 7 se señala la base teórica que tiene la metodología DEEP, donde se verán los aspectos racionales y humanos para la solución de los problemas, los estilos personales, se adentrará en el concepto de la mejora continua y por último se dará un repaso a las herramientas y metodologías de solución de problemas más populares en las compañías de manufactura. El capítulo 8 representa el resultado final de esta tesis de investigación donde se expondrá el origen y estructura de DEEP, así como, 2 ejemplos de las aplicaciones prácticas desarrolladas con esta metodología, por último, en el capítulo 9, las conclusiones contestarán a los objetivos y las hipótesis planteadas en los primeros 2 capítulos con base a los resultados del capítulo 8.
dc.identificatorCampo||7||33||3310||331005


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